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讀延遲縮短至 18ns,中國科學(xué)院微電子所在新型存儲(chǔ)器領(lǐng)域取得重要進(jìn)展

2023-07-19 13:35 IT之家
關(guān)鍵詞:存儲(chǔ)器延遲

導(dǎo)讀:中國科學(xué)院微電子研究所今日發(fā)文,微電子所劉明院士團(tuán)隊(duì)提出了一種基于 TiN/ TiOxNy / TiOx / NbOx / Ru 結(jié)構(gòu)的非細(xì)絲型自選通阻變存儲(chǔ)器,并在 16 層三維垂直結(jié)構(gòu)上實(shí)現(xiàn)。

7 月 19 日消息,中國科學(xué)院微電子研究所今日發(fā)文,微電子所劉明院士團(tuán)隊(duì)提出了一種基于 TiN/ TiOxNy / TiOx / NbOx / Ru 結(jié)構(gòu)的非細(xì)絲型自選通阻變存儲(chǔ)器,并在 16 層三維垂直結(jié)構(gòu)上實(shí)現(xiàn)。

據(jù)介紹,該存儲(chǔ)器實(shí)現(xiàn)了 50 倍開態(tài)電流密度的提升,并達(dá)到了高非線性(>5000)。TiOx 內(nèi)部峰狀勢(shì)壘的形成有效提升了器件的非線性。第一性原理計(jì)算結(jié)果表明 Nb2O5 的氧空位聚合能為正值,這表明氧空位不容易發(fā)生聚集,器件可在較高電流下工作而不會(huì)發(fā)生擊穿,從而實(shí)現(xiàn)高電流密度。

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▲圖(a)16 層三維垂直 RRAM 的 TEM 截面圖、圖(b)I-V 特性曲線

中國科學(xué)院微電子研究所表示,由于電流的提升,該器件的讀延遲縮短至 18ns。該工作為實(shí)現(xiàn)具有高速、高密度的 3D VRRAM 提供了可能途徑。

該成果以題為“16-layer 3D Vertical RRAM with Low Read Latency (18ns), High Nonlinearity (>5000) and Ultra-low Leakage Current (~pA) Self-Selective Cells”入選 2023 VLSI。微電子所博士生丁亞欣為第一作者,微電子所羅慶研究員和華中科技大學(xué)薛堪豪教授為通訊作者。